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GJB360B-2009电子元件高频振动测试试验
发布时间：2017-06-26 18:52:19点击：114评论：0字体：T|T
GJB360B-2009电子元件高频振动试验确定元件对在现场使用中可能受到的高频振动的适应性和结构完好性。
振动试验是按照相关的测试规范将试验样品刚性安装在振动台上，引线或电缆也应适当固定。对带有安装架的试验样品，其中一个振动方向应与安装架的安装表面相平行。
GJB360B-2009电子元件高频振动试验采用的是正弦扫频振动试验方法，有起始的振动频率，和最终频率，以及交越频率。
（一）振动试验可能引起的故障：
1.振动试验使元件结构松动，内部部件产生相对运动。
2.造成脱焊、接触不良、工作特性变劣；
3.元件产生噪声、磨损、物理失效，使机械结构疲劳。
振动试验的时间：最短4小时，最长12小时。
振动试验的频率：最低频率10hz，最高频率3000hz,加速度最小10G，最大80G。
振动试验前后是否需要预处理按照产品的规范而定。
（二）振动试验的结果判定：
1.机械损伤，例如外壳、引线、封接等处损伤；
2.电气性能是否合格。
实验室电话 136 9109 3503.
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